薄膜质量检测－MCorder 2D

MCorder 2D

薄膜表面质量检测系统 MCorder 2D是原力超导公司推出的一款新型高温超导带材测量系统，拥有自主知识产权，能够较准确查找出超导带材表面缺陷。

MCorder 2D 以0.05mm×0.05mm的空间分辨率扫描样品表面磁场，并利用毕奥萨伐尔反卷积算法精确、高速反算超导样品局部电流密度分布。超导材料学研究者可利用MCorder 2D测定样品质量、寻找缺陷位置判定缺陷形貌。作为磁探针显微镜，MCorder 2D能广泛应用于磁性材料，导电薄膜材料的性能检测。  

产品指标

产品优势  

广泛适用于超导薄膜，块材和其它磁性材料，导电材料

0.05mm步进长度，扫描分辨率高

基于毕奥萨伐尔反卷积算法，速度快，精度高

 控制与数据采集界面

用户体验特性

更换样品方便，可自适应带材，块材，和其他类型材料

反算软件，磁场、电流2D-3D显示自由切换，增强现实 

反算软件配低通滤波器 

测试与分析案例